量子效率测试仪的使用方法与步骤
更新时间:2024-08-06 点击次数:1300
量子效率测试仪可提供大面积的均匀光斑,比传统积分球提供更强的光强,可以测量相机像素的量子效率以及整个芯片的相机参数。准直光学技术,提供半角1度的准直光,可以进行变角度CRA和CROSSTALK测试。利用分光技术,测量的波长范围更可扩展到190 nm-2600 nm。是一高性能的传感器综合测试系统。
量子效率测试仪使用方法与步骤:
(1):将待测CCD芯片和标准探测器,以及它们各自的驱动电路放置在暗室中,并调节测量系统各部分仪器的参数。打开光源的开关,使电流保证在8.4到8.6安,打开单色仪开关,打开皮安表开关和移动位移台的开关。
(2):通过上位机程序控制待测CCD芯片电子快门,调整CCD芯片的积分时间来控制CCD芯片的曝光时间和曝光量。(一般调好不用管)。
(3):调节移动位移台,将标准件调到和激光光斑重合处(目前大约41500)。
(4):记录皮安表的数值,查表,找出对应波长的数值,用皮安表的数值除以查表得出的值,得出功率值。(正好皮安对皮瓦)。
(5):盖住CCD相机的镜头,在CCD上位软件上,连接设备,连续采图,设置参数中输入对应波长,功率值后。再单击量子效率,完成暗图像的采集。
(6):调节移动位移台,将CCD工业相机调到激光光斑重合处,(目前大约是回到原点)。
(7):揭开CCD的镜头,让激光光斑打到CCD上,在设置参数中输入对应波长,功率值后,亮图上打上对勾。再单击量子效率,完成亮图像的采集。
(8):记录量子效率的值。
(9);在单色仪的上位软件里,设定对应波长,波长从400nm-780nm。设置起始波长为400nm,每隔20nm,重复(3)到(8)步骤测一次量子效率的值。直到780nm为止。
(10):绘制量子效率的曲线。